| SIC模塊動態(tài)偏壓可靠性測試 |
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價格: 元(人民幣) | 產(chǎn)地:本地 |
| 最少起訂量:1項 | 發(fā)貨地:本地至全國 | |
| 上架時間:2024-07-30 14:44:14 | 瀏覽量:125 | |
廣州廣電計量檢測股份有限公司
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碳化硅的長期運行可靠性是目前業(yè)內(nèi)關(guān)注的核心問題之一。由于寬禁帶半導(dǎo)體器件本身的特性,如大量的界面問題導(dǎo)致的閾值電壓漂移問題,傳統(tǒng)的基于硅器件的失效模型已無法充分覆蓋碳化硅的情況;研究表明需要采取動態(tài)的老化測試手段來進行評估。 針對SiC分立器件和模塊,廣電計量參照JEDEC、AECQ101及AQG324標(biāo)準(zhǔn)進行檢測驗證,能力不僅覆蓋用于驗證傳統(tǒng)Si器件長期穩(wěn)定性的所有方法,還開發(fā)了針對SiC器件不同運行模式的特定試驗,在較短時間內(nèi)了解功率器件的老化特性,見表1。 表1 SiC器件/模塊特定可靠性試驗
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