| P1401/P1501 set-Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)） |
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價格：8 元(人民幣) | 產地：德國 |
| 最少起訂量：1套 | 發(fā)貨地：浙江杭州市 | |
| 上架時間：2024-05-27 09:42:56 | 瀏覽量：74 | |
上海歐橋電子科技發(fā)展有限公司
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Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)） 品牌：Langer EMV-Technik 型號：P1401/P1501 set 射頻功率場耦合1GHz Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P1401/P1501 set介紹： P1401/P1501機組或 P1402/P1502機組可分別用于測量1GHz 和3GHz 頻率范圍內的集成電路(IC)對磁場和電場的抗擾度。P1401或 P1402場源用于產生磁測試場，P1501或 P1502場源用于產生電測試場。通過使用間隔環(huán)將各自的場源定位在測試集成電路的上方，然后將其測試場施加到集成電路上以測量其對干擾的抗擾性。   Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P1401/P1501 set配置: 1x P1401, 高頻磁場源（~1GHz） 1x P1501, 高頻電場源（~1GHz） 1x D70 h03 1x D70 h10 2x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜 1x P1401 / P1501 case, System case 1x P1400 / P1500 m  簡短的介紹： P1401型磁場源檢測集成電路在高頻磁場下的抗干擾性。受測集成電路處于工作狀態(tài)。P1401型磁場源與功率放大器和高頻信號發(fā)生器連接使用。  P1501型電場源檢測集成電路在高頻電場下的抗干擾性。受測集成電路處于工作狀態(tài)。P1501型電場源與功率放大器和高頻信號發(fā)生器連接使用。
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