| SS304潔凈氣體外絲卡套接頭英制1/4" |
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價(jià)格：50 元(人民幣) | 產(chǎn)地：上海奉賢區(qū) |
| 最少起訂量：1件 | 發(fā)貨地：上海 | |
| 上架時(shí)間：2024-03-15 14:13:18 | 瀏覽量：311 | |
上海睿裕機(jī)械設(shè)備有限公司
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| 經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)加工 | 公司類型：私營(yíng)有限責(zé)任公司 | |
| 所屬行業(yè)：氣動(dòng)元件 | 主要客戶：機(jī)械設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、化工設(shè)備、半導(dǎo)體、管道工程、工程機(jī)械 | |
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SS304潔凈氣體外絲卡套接頭英制1/4" 也就是說(shuō)，壓痕接觸面積愈大，超聲硬度計(jì)的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測(cè)表面的接觸面積，致使硬度計(jì)示值偏低于真實(shí)值。試驗(yàn)證明，洛氏硬度測(cè)量偏差在10HRC左右；布氏硬度測(cè)量偏差在20HB左右。解決辦法：在測(cè)量試樣硬度時(shí)，我們必須注意被測(cè)表面粗糙度是否符合硬度計(jì)的檢測(cè)條件。在正常使用硬度計(jì)的條件下，必須保證試樣的被測(cè)表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm，若試樣的被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm，可以通過(guò)機(jī)械方法（上磨床）或手工方法，對(duì)被測(cè)表面進(jìn)行研磨修整，法國(guó)凱茂KIMO使試樣的被測(cè)表面粗糙度達(dá)到檢側(cè)條件。 卡套接頭SS316和SS316L選材： 主要區(qū)別316含碳量0.08%，316L 含碳量0.03%。碳受熱很容易形 成碳鉻化合物析出，造成局部Cr含量下降，嚴(yán)重影響不銹鋼的耐腐蝕能力。 需要焊接的產(chǎn)品材質(zhì)選用316L。 通常情況下，316的強(qiáng)度會(huì)略高于316L的材料，所以一般卡套接頭采用316材質(zhì)。 不銹鋼產(chǎn)品常用的其它材料 特點(diǎn)：雙套圈結(jié)構(gòu)，連接緊密，幾乎無(wú)泄露。耐壓性能好，與管路接為一體。 安裝非常方便，無(wú)需特別工具。 雙卡套裝配方式 將管子插入接頭底部，手?jǐn)Q緊螺帽用扳手鎖1-1/4圈，3/16” ( 4mm)以下鎖3/4圈，即可緊固。  SS304潔凈氣體外絲卡套接頭英制1/4" 憑借在5G技術(shù)及測(cè)試領(lǐng)域的積累和優(yōu)勢(shì)，大唐移動(dòng)在大規(guī)模多天線測(cè)試方面取得了較多的進(jìn)展。協(xié)議設(shè)計(jì)測(cè)試在5GNR協(xié)議中為了提高覆蓋的性能在不同的傳輸信道定義了不同的下行導(dǎo)頻，針對(duì)不同用戶使用不同的DMRS，同時(shí)定義了多種多端口CSI-RS專門(mén)用于信道質(zhì)量測(cè)量和預(yù)編碼碼本的計(jì)算。在上行信道也采用相同的思想，定義不同用戶的DMRS和多端口SRS用于信道質(zhì)量的測(cè)量和預(yù)編碼碼本的計(jì)算。天線數(shù)增多后，業(yè)務(wù)信道的覆蓋通常能滿足要求，而控制信道的能力并不會(huì)隨著天線數(shù)增多而增強(qiáng)，因此控制信道的覆蓋將會(huì)成為系統(tǒng)性能的瓶頸。  卡套接頭強(qiáng)度大于管道強(qiáng)度，既便管道破裂，卡套接頭不會(huì)脫離、破壞。 拆卸后可復(fù)用，復(fù)用次數(shù)超過(guò)25次。重鎖緊時(shí)一般鎖到原位置后再鎖1/12圈。 液壓破壞試驗(yàn)裝置 雙卡套接頭性能 .完全可替換性，可與進(jìn)口完全互換。. He泄漏檢測(cè)，不大于1 X 108atm/sec.高低溫測(cè)試(-40°C到 74°C).振動(dòng)試驗(yàn)( 10-20Hz振動(dòng)1000,000次) 管道要求 相對(duì)而言，使用卡套接頭對(duì)管道的要求要高此。 一般要求管子外徑尺寸公差小于士0.1mm 管口切口正直，表面無(wú)明顯劃傷。管口保持一 定的圓度，不能為橢圓。 管道 Tube外徑為公稱尺寸，一般冷拉或擠壓. Pipe內(nèi)徑為公稱尺寸，鑄造、鍛造、焊接 卡套接頭只能用于tube SS304潔凈氣體外絲卡套接頭英制1/4"  先測(cè)試出可控硅的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試后，逐漸升壓，觀測(cè)漏電流，當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié)，并且只能測(cè)試其是否導(dǎo)通，而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控硅進(jìn)行測(cè)量，參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制，兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。 |
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