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1C31113G06模塊 

工業(yè)電路板維修技巧
不能過(guò)分依賴(lài)在線測(cè)試儀 
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。 
4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類(lèi)芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問(wèn)題呢？這就是這類(lèi)測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰�測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開(kāi)晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話�！霸诰�測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的�！彼慕忉尀�，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過(guò)，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過(guò)”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過(guò)，明明芯片已損壞了（確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過(guò)的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過(guò)分依賴(lài)在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。 

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 1、具備高性能計(jì)算和出色的圖形處理性能

  EPC-3130M-A10支持Intel 10代Core i3/i5/i7 LGA1200處理器和Intel H420E/Q470E芯片組，與前幾代CPU相比實(shí)現(xiàn)了多線程處理性能提升。CPU集成圖形控制，支持VGA、HDMI、DP等多種顯示接口輸入輸出，支持獨(dú)立三顯，支持4K分辨率，圖形處理效果出色。

  2、滿足大內(nèi)存，高速緩存的產(chǎn)品應(yīng)用需求

  EPC-3130M-A10支持板載2條SO-DIMM內(nèi)存插槽，支持DDR4-2400/2666/2933MHz，支持64GB。

  支持板載兩個(gè)SATA接口，支持SATA3.0高速存儲(chǔ)。支持板載1個(gè)M.2 2280 KEY M接口接入SSD硬盤(pán)以增加存儲(chǔ)空間(Q470E 支持PCIE X4的SSD，H420E 支持SATA的SSD)。

  3、網(wǎng)絡(luò)通訊能力及可擴(kuò)展性出色

  EPC-3130M-A10支持板載5個(gè)Intel I226和1個(gè)Intel I219自適應(yīng)RJ45網(wǎng)口，可實(shí)現(xiàn)高速網(wǎng)絡(luò)通訊和多機(jī)聯(lián)網(wǎng)控制。