高加速測試
高加速測試是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產品開發(fā)的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產品的可靠性。
適用領域：1、計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等；
2、電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等；
3、電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設備；
4、其他：包裝箱、運輸設備等；
依據標準
高溫測試：GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2
低溫測試：GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59
快速溫變測試：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
冷熱沖擊測試：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 EIA-364-32
恒溫恒濕測試：GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202
溫度變化測試：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
交變濕熱：GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30
溫濕度組合循環(huán)測試：GB/T 2423.34 IEC60068-2-38 MIL-STD-202
TB/T 2054-2017機車淋雨試驗方法
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