以太網(wǎng)模塊 190E-ANEJ1-CB16C-F11
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
以太網(wǎng)模塊 190E-ANEJ1-CB16C-F11
190E-AND2-CB40C
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190E-AND2-CB40X
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190E-AND2-CB63X
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190E-ANEJ1-CB16C-F11
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第五屆中國國際進口博覽會(以下簡稱“進博會”)已進入,各項籌備工作正在穩(wěn)步推進中。作為第一批承諾參加首屆進博會的全球企業(yè),今年將是霍尼韋爾連續(xù)第五年參展,與各方伙伴共赴“進博之約”。
今年,霍尼韋爾將以“即刻啟程,助您加快可持續(xù)發(fā)展轉型”為主題,展出能源轉型、航空運輸、智能建筑、智慧供應鏈、醫(yī)療健康等五大應用領域的高科技產(chǎn)品與解決方案,攜手中國合作伙伴實現(xiàn)更為低碳、高效、安全、健康的可持續(xù)發(fā)展。
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