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產品簡介

開爾文探針（Kelvin Probe）是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數（Work Function）或半導體、絕緣表面的表面勢（Surface Potential）。材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種的表面分析技術。主要型號：KP020 （單點開爾文探針），SKP5050（掃描開爾文探針）。

詳細介紹

掃描開爾文探針

開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種的表面分析技術。主要型號：KP020 (單點開爾文探針)，SKP5050(掃描開爾文探針)。

掃描開爾文探針系統(tǒng) (SKP)：
SKP5050系統(tǒng)是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統(tǒng)，它是在SKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置，其規(guī)格如下：
□ 2毫米探針，50微米探針(選配)；
□ 功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)，5-10 meV(50微米針尖)；
□ 針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內；
□ 表面勢和樣品形貌3維地圖；
□ 探針掃描或樣品掃描選配；
□ 彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業(yè)的光學固定裝置；
□ 參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌)；
□ 備用的針尖放大器；
 
儀器特色：
□ 一臺商用的完全意義上的開爾文探針系統(tǒng)；
□ 分辨率的功函數和表面勢，的穩(wěn)定性和數據重現性；
□ 非技術(Off-null, ON) ——ON信號探測系統(tǒng)在高信號水平下工作，與基于零信號原理(null-based, LIA)的系統(tǒng)相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；
□ 高度調節(jié)技術 ——我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節(jié)意味著數據的高重現性且不會漂移；
□ 該領域內，擁有的信噪比；
□ 快速響應時間 ——測量速度在0.1-10秒間，遠快于其他公司產品；
□ 功能強的驅動器 ——選用Voice-coil(VC)驅動器，與通常的壓電驅動器相比，VC驅動器頻率要穩(wěn)定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；
□ 所有開爾文探針參數的全數字控制；

應用領域：
吸附，電池系統(tǒng)，生物學和生物技術，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術，教育，光/熱散發(fā)，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術，Oleds，相轉變，感光染色，光伏譜學，高分子半導體，焦熱電，半導體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數工程學；