| SIPDR電阻率測(cè)試夾具 |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間：2022-07-31 01:00:53 | 瀏覽量：10 | |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
SIPDR電阻率測(cè)試夾具用于測(cè)量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導(dǎo)體晶片的電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量；可以測(cè)量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs &amp;lt;20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜。 詳細(xì)介紹SIPDR電阻率測(cè)試夾具 SiPDR（單柱介電諧振器）用于測(cè)量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導(dǎo)體晶片的電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量；可以測(cè)量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜。 SIPDR電阻率測(cè)試夾具對(duì)于半導(dǎo)體晶片，電阻率測(cè)量的上限約為1000Ωcm。 具有較高電阻率值的半導(dǎo)體可以使用該諧振器方便地進(jìn)行測(cè)量。所有SiPDR（單柱介電諧振器）都是定制的。
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