| 白光干涉顯微鏡VS1800 |
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價(jià)格: 元(人民幣) | 產(chǎn)地:本地 |
| 最少起訂量:1件 | 發(fā)貨地:本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間:2020-04-26 16:58:18 | 瀏覽量:46 | |
柜谷科技發(fā)展(上海)有限公司
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| 經(jīng)營(yíng)模式:貿(mào)易型 | 公司類型: | |
| 所屬行業(yè):科學(xué)儀器/實(shí)驗(yàn)儀器 | 主要客戶: | |
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產(chǎn)品創(chuàng)新點(diǎn) 上市時(shí)間:2019年3月 (1)高測(cè)量性能 ,垂直方向分辨率高,重現(xiàn)性好,測(cè)量速度快,測(cè)量視野廣,無損傷測(cè)量 (2)易于使用的操作界面 (3)ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具 (4)硬件全面升級(jí) 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
日立高新技術(shù)科學(xué)公司于2019年3月起,在中國(guó)開始銷售利用光干涉原理進(jìn)行非接觸式無損傷三維表面形態(tài)測(cè)量的納米尺度3D光學(xué)干涉測(cè)量系統(tǒng)“VS1800”,該產(chǎn)品搭配有支持多目的表面測(cè)量國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)“ISO 25178*1參數(shù)對(duì)比工具”,通過簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確的樣品測(cè)量支持客戶的分析業(yè)務(wù),與此同時(shí),憑借不斷創(chuàng)新積累的三維測(cè)量性能,實(shí)現(xiàn)高精度、高分辨率的表面性狀的測(cè)量。
在半導(dǎo)體、汽車、食品、醫(yī)藥品等產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的材料研究和開發(fā)方面,為了提高產(chǎn)品的性能與功能,對(duì)產(chǎn)品表面的粗糙度、凸凹不平、翹曲等表面形狀的評(píng)估變得尤其重要。以往,表面形態(tài)的測(cè)量方法,一般是采用觸針式粗糙度測(cè)量?jī)x等進(jìn)行二維測(cè)量(線+高差),但近年來,伴隨著材料的薄膜化和微細(xì)構(gòu)造化的加速,需要獲取更多的信息,因此,采用掃描型白光干涉顯微鏡*2和激光顯微鏡*3等進(jìn)行三維測(cè)量(面+高差)便得到了靈活應(yīng)用。 此外,2010年制定了有關(guān)三維表面形態(tài)評(píng)估的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178,確立了評(píng)估方法,在這種背景下,實(shí)施三維測(cè)量的企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)等日益增多。因此,需要我們急切實(shí)現(xiàn)有關(guān)表面形態(tài)測(cè)量上的測(cè)量與分析的簡(jiǎn)單化以及應(yīng)對(duì)多種樣品的測(cè)量問題。 此次發(fā)售的“VS1800”產(chǎn)品, 搭配了符合ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)的分析工具 “ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具”。在ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了評(píng)估表面性狀的32個(gè)項(xiàng)目的參數(shù),但在對(duì)比樣品時(shí),選擇最適合評(píng)估的參數(shù)很難,成為分析業(yè)務(wù)的難題!癐SO 25178參數(shù)對(duì)比工具”,通過按差異程度大小順序自動(dòng)對(duì)測(cè)量的參數(shù)值進(jìn)行依次排序,可輕松選出最適合對(duì)比樣品的參數(shù),從而支持客戶的分析業(yè)務(wù)。 此外,“VS1800” 產(chǎn)品,通過光干涉方法*4除了可實(shí)現(xiàn)大視野測(cè)量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重現(xiàn)性外,亦通過日立高新技術(shù)科學(xué)自主研發(fā)的技術(shù),繼承了多層膜的無損傷測(cè)量等傳統(tǒng)產(chǎn)品的高測(cè)量性能。此外,該產(chǎn)品還可搭配“大傾斜角測(cè)量選配 ”*6功能,通過捕捉大傾斜角斜面的微弱的干涉條紋變化,實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的光干涉方式無法實(shí)現(xiàn)的大傾斜角斜面測(cè)量,從而應(yīng)對(duì)多種多樣的樣品表面性狀的三維測(cè)量。
日立高新技術(shù)集團(tuán)擁有可實(shí)現(xiàn)極微細(xì)樣品的高分辨率測(cè)量的原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡直至大視野、高精度測(cè)量可能的“VS1800”等產(chǎn)品陣容,提供表面分析解決方案,從而滿足客戶的廣泛需求。
*1 ISO 25178:規(guī)定表面形態(tài)評(píng)估方法的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。 *2掃描型白色干涉顯微鏡:利用光干涉原理進(jìn)行非接觸式、無損傷的表面形態(tài)測(cè)量的測(cè)量設(shè)備。 *3激光顯微鏡:將激光作為光源進(jìn)行表面形態(tài)測(cè)量的測(cè)量設(shè)備。 *4光干涉方法:是利用兩列或兩列以上的光波相互疊加而出現(xiàn)光明暗(干涉條紋)現(xiàn)象(干涉)的檢查方法。 *5 0.01 nm的垂直方向分辨率為Phase模式時(shí)的性能。 *6“大傾斜角測(cè)量選配”為選擇項(xiàng)目。 【主要特點(diǎn)】 (1)高測(cè)量性能 a.垂直方向分辨率:利用光干涉方法,通過獨(dú)自的算法,實(shí)現(xiàn)0.01 nm*的垂直方向分辨率 b.重現(xiàn)性:利用干涉條紋測(cè)量凸凹的高度,通過將來自Z驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的影響最小化,實(shí)現(xiàn)0.1 %以下的重現(xiàn)性 c.測(cè)量速度:由于不需要樣品的前處理,只要將樣品放置在樣品臺(tái)上即可完成測(cè)量準(zhǔn)備。通過光干涉方法最 快5秒鐘即可完成測(cè)量 d.測(cè)量視野:以從干涉條紋獲取的信息為基礎(chǔ)進(jìn)行凸凹高度的測(cè)量,由此可實(shí)現(xiàn)廣范圍(One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm)測(cè)量與高垂直方向分辨率的兩者兼顧。此外,通過連接多個(gè)數(shù)據(jù)的圖像,可進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)廣范圍的分析 e.無損傷測(cè)量:通過日立高新技術(shù)科學(xué)自主研發(fā)的技術(shù),對(duì)玻璃和薄膜等透明多層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行測(cè)量時(shí),無需對(duì)樣品進(jìn)行加工切割成截面,即可在無損傷的情況下,完成多層結(jié)構(gòu)樣品的各層厚度或異物混入狀況的確認(rèn)以及缺陷分析等 * Phase模式時(shí) (2) 易于使用的操作界面 采用直觀易懂的操作界面,能夠輕而易舉地進(jìn)行圖像分析處理前后的圖像對(duì)比,從而支持分析時(shí)的最合適圖像處理選擇。此外,可簡(jiǎn)單地列出處理與分析的內(nèi)容、創(chuàng)建獨(dú)自的分析參數(shù)、重復(fù)使用分析參數(shù)等,并且還可批量處理數(shù)據(jù),由此實(shí)現(xiàn)統(tǒng)一管理多個(gè)樣品和分析結(jié)果,減輕繁瑣復(fù)雜的后處理。 (3) ISO 25178參數(shù)對(duì)比工具 在對(duì)比多個(gè)樣品時(shí),通過將ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的32項(xiàng)參數(shù)值按差異的大小順序重新排列,從而在樣品對(duì)比時(shí)能夠輕松選取最適參數(shù),支持客戶的分析業(yè)務(wù)。 (4) 硬件升級(jí) 按每一臺(tái)XY樣品臺(tái)的驅(qū)動(dòng)方式,設(shè)計(jì)了3個(gè)類型的產(chǎn)品,即基礎(chǔ)模式的手動(dòng)型Type 1、電動(dòng)型Type 2、Type 3。從Type 1到Type 2、Type 3,均可根據(jù)不同的用途進(jìn)行升級(jí)。 |
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