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BX-100DIC微分干涉相襯工業(yè)檢測顯微鏡

BX-100DIC微分干涉相襯工業(yè)檢測顯微鏡

ICM-100DIC工業(yè)檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察,   DIC觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機(jī)械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動，機(jī)構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測。 

性能特點
★ 采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可提供卓越的光學(xué)性能。
★ 緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。
★ 符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。
★ 機(jī)械式移動載物平臺，適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。
★ 模塊化的功能設(shè)計，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)暗場觀察等功能。