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B/T2423.10-2008/IEC60068-2-6:1995電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦)

本部分給出了一個標準的試驗方法過程,用以確定元件,設備和其他產品經受規(guī)定嚴酷度正弦振動的能力.
試驗的目的:確定樣品的機械薄弱環(huán)節(jié)和特性降低的情況.用這些數據結合有關規(guī)范用以判定樣品是否可以接收.在某些情況下,本試驗方法可用于論證樣品的機械結構完好性和動態(tài)特性.也可根據經受本試驗不同嚴酷登記的能力來劃分元器件的等級.

正弦振動試驗分為:正弦掃頻試驗(掃頻耐久和定頻耐久),危險頻率測量(諧振搜索).

正弦振動試驗的試驗條件由頻率范圍,振動幅值,耐久試驗的持續(xù)時間來確定.

耐久試驗的頻率范圍:10hz-55hz,10-150hz,10-500hz,55-500hz等。
耐久試驗的持續(xù)時間：一般每個方向 1min,2min,5min,10min,20min,50min,100min.

定頻耐久試驗在搜索到的諧振點的頻率上作的試驗，一般時間為10min,30min,90min等。