汽車(chē)LED車(chē)燈AECQ認(rèn)證，AEC-Q102認(rèn)證.AEC-Q102哪里可以做？

	價(jià)格：元(人民幣)	產(chǎn)地：本地
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	上架時(shí)間：2018-08-06 10:19:55	瀏覽量：242
	廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司
	經(jīng)營(yíng)模式：商業(yè)服務(wù)	公司類(lèi)型：國(guó)有企業(yè)
	所屬行業(yè)：檢測(cè)服務(wù)	主要客戶：華為，吉利，格力，沃爾沃，大眾，東風(fēng)日產(chǎn)
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AEC-Q102認(rèn)證

隨著近年來(lái)車(chē)用市場(chǎng)蓬勃發(fā)展,中國(guó)傳統(tǒng)乘用車(chē)預(yù)估在2017年將可達(dá)到2,380萬(wàn)輛的銷(xiāo)量。自2016年開(kāi)始中國(guó)本土車(chē)廠自有品牌銷(xiāo)售量也逐年在增長(zhǎng)，除制造質(zhì)量逐步上升外，因應(yīng)汽車(chē)零部件電子化程度大幅增加，在汽車(chē)上使用的電子零部件將持續(xù)被車(chē)廠列為重要關(guān)注對(duì)象。而其中，環(huán)保節(jié)能意識(shí)抬頭，LED光源開(kāi)始大量使用在汽車(chē)電子零部件上，車(chē)用LED成為近年來(lái)不斷具有相當(dāng)需求規(guī)模且仍持續(xù)快速成長(zhǎng)的LED應(yīng)用之一。

自2013年開(kāi)始已有部份國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)制定組織，開(kāi)始針對(duì)車(chē)用LED制定相關(guān)的驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn),但因各組織有著不同的觀點(diǎn), 因此LED車(chē)廠參考的標(biāo)準(zhǔn)則各不相同；2017年3月AEC(汽車(chē)電子委員會(huì))正式發(fā)表AEC-Q102 REV標(biāo)準(zhǔn)，這為車(chē)用LED應(yīng)用點(diǎn)了一盞明燈，讓OEM, Tier 1供貨商及LED組件供貨商有了奉行的圭臬，而此標(biāo)準(zhǔn)整合過(guò)往的經(jīng)驗(yàn)，更貼近企業(yè)的驗(yàn)證模式及考慮到未來(lái)LED使用的環(huán)境：包含實(shí)驗(yàn)樣品數(shù)量,LED Tj(Junction Temperature)控制的方法,腐蝕氣體測(cè)試的增加,每項(xiàng)都是針車(chē)用LED所可能遭遇的環(huán)境來(lái)設(shè)計(jì),以保護(hù)行車(chē)時(shí)的安全性。正因如此，任何一顆元件失效都與行車(chē)安全息息相關(guān)，可靠性驗(yàn)證絕對(duì)是當(dāng)今最重要的議題之一。

廣電計(jì)量-失效分析實(shí)驗(yàn)室致力于LED上中下游產(chǎn)品質(zhì)量方案的服務(wù),可協(xié)助企業(yè)的產(chǎn)品找出實(shí)驗(yàn)過(guò)程中因設(shè)計(jì)的不良,而導(dǎo)致失效的原因，也可提供專業(yè)的LED故障分析從磊晶,元件,模塊到LED燈具,等完整的分析服務(wù),幫助快速的找到失效問(wèn)題點(diǎn),并提供解決方案；此外，亦可結(jié)合公司其他業(yè)務(wù)中心公司提供包含安全、性能、能效、認(rèn)證等各個(gè)方面一站式解決方案。

GRGT累積了10多年的可靠性驗(yàn)證與失效分析經(jīng)驗(yàn)，加上充分實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，能夠提供客戶完整的車(chē)電驗(yàn)證方案，是目前國(guó)內(nèi)為數(shù)不多，可以從車(chē)用元器件、模塊至系統(tǒng)端的可靠性測(cè)試機(jī)構(gòu)。Tier1車(chē)廠法雷奧（Faleo）大陸汽車(chē)（Continental）、德?tīng)柛＃―ELPHI）等客戶的指定實(shí)驗(yàn)室。

AEC-Q 認(rèn)證測(cè)試方法

（1）加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試：偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存壽命

（2）加速壽命模擬測(cè)試：高溫工作壽命、早期失效率

（3）可靠性測(cè)試：振動(dòng)、沖擊、恒加速應(yīng)力、跌落、扭力、切應(yīng)力、拉力、

（4）電氣特性確認(rèn)測(cè)試：靜電放電、電分配、電磁兼容

（5）密封性測(cè)試：粗細(xì)漏檢、內(nèi)部水汽含量

（6）篩選監(jiān)控測(cè)試：部件平均測(cè)試、統(tǒng)計(jì)良率分析

（7）破壞性物理分析：

AEC-Q102認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目如下：

測(cè)試項(xiàng)目	簡(jiǎn)稱	測(cè)試條件
Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test	TEST	LED測(cè)試相關(guān)光電參數(shù)
Pre-conditioning	PC	SMD產(chǎn)品在高溫高濕、TC、PTC試驗(yàn)前預(yù)處理，條件參數(shù)MSL等級(jí)
External Visual	EV	產(chǎn)品外觀檢查（結(jié)構(gòu)，標(biāo)記，工藝）
Parametric Verification	PV	測(cè)試產(chǎn)品不同溫度下的光電參數(shù)
High Temperature Operating Life	HTOL1	1、試驗(yàn)周期=1000H,(可參照附錄Appendix 7a延長(zhǎng)至4000H、10000H）； 2、溫度=TJmax； 3、電流=參照規(guī)格書(shū)電流與Tj關(guān)系選擇，使Tj=Tjmax；
High Temperature Operating Life	HTOL2	1、試驗(yàn)周期=1000H,(可參照附錄Appendix 7a延長(zhǎng)至4000H、10000H）； 2、溫度=參照規(guī)格書(shū)電流與Tj關(guān)系選擇，使Tj=Tjmax； 3、電流=IFmax；
High Temperature Reverse Bias	HTRB	不適用于LED
Wet High Temperature Operating Life	WHTOL1	1、試驗(yàn)前預(yù)處理； 2、試驗(yàn)周期=1000H； 3、溫度/濕度=85℃/85%RH； 4、電流=參照規(guī)格書(shū)電流與Tj關(guān)系選擇，使Tj=Tjmax，30min on/30min off；
Wet High Temperature Operating Life	WHTOL2	1、試驗(yàn)前預(yù)處理； 2、試驗(yàn)周期=1000H； 3、溫度/濕度=85℃/85%RH； 4、電流=規(guī)格書(shū)最低電流，If no minimum rated drive current is specified, a drive current shall be chosen not to exceed a rise of 3 K for Tjunction；
Wet High Temperature Operating Life	H3TRB	不適用于LED
Temperature Cycling	TC	1、試驗(yàn)前預(yù)處理； 2、試驗(yàn)周期=1000cycles ，最低停留時(shí)間為15min； 3、溫度范圍=低溫選擇規(guī)格書(shū)定義的最低使用溫度，高溫TC選擇不低于最高使用溫度， TC condition 1：max Ts=85℃ TC condition 2：max Ts=100℃ TC condition 3：max Ts=110℃ TC condition 4：max Ts=125℃ 4、冷熱沖擊后DPA，并提供制造時(shí)金線拉力數(shù)據(jù)，試驗(yàn)報(bào)告標(biāo)明冷熱沖擊條件及轉(zhuǎn)換時(shí)間。
Power Temperature Cycling	PTC	1、試驗(yàn)前預(yù)處理； 2、試驗(yàn)周期=1000H ，最低停留時(shí)間為未定義； 3、電流=參照規(guī)格書(shū)電流與Tj關(guān)系選擇，使Tj=Tjmax，5min on/5min off； 4、溫度范圍=低溫選擇規(guī)格書(shū)定義的最低使用溫度，高溫TC選擇不低于最高使用溫度， TC condition 1：max Ts=85℃ TC condition 2：max Ts=105℃ TC condition 3：max Ts=125℃ 5、冷熱沖擊后DPA，試驗(yàn)報(bào)告標(biāo)明冷熱沖擊條件及轉(zhuǎn)換時(shí)間。
Intermittent Operational Life	IOL	不適用與LED
Low Temperature Operating Life	LTOL	不適用與LED
Electrostatic Discharge Human Body Model	HBM	人體模式靜電等級(jí)測(cè)試
Electrostatic Discharge Charged Device Model	CDM	芯片放電模型（Note1說(shuō)明不適合部分封裝形式）
Destructive Physical Analysis	DPA	從以下試驗(yàn)中隨機(jī)抽取分析： PTC/IOL, WHTOL/H?TRB, H2S, and FMG. (2 samples each)
Physical Dimension	PD	測(cè)試產(chǎn)品尺寸規(guī)格
Terminal Strength	TS	端子強(qiáng)度測(cè)試
Constant Acceleration	CA	不適用于LED
Vibration Variable Frequency	VVF	1、1.5mm等位移雙振幅，頻率范圍20-100HZ； 2、200m/s?恒定加速度，振幅范圍100Hz-2kHz;
Mechanical Shock	MS	機(jī)械沖擊：1500 g's for 0.5 ms, 5 次撞擊, 3 個(gè)方向.
Hermeticity	HER	不適用于LED
Resistance to Solder Heat	RSH (-reflow)	僅適用于回流焊焊接產(chǎn)品，3次回流焊，標(biāo)準(zhǔn)J-STD-020
Resistance to Solder Heat	RSH （-wave）	僅適用于波峰焊焊接產(chǎn)品
Solderability	SD	參照表2A 測(cè)試方法B和D對(duì)SMD產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。試驗(yàn)后用50X顯微鏡觀察。
Pulsed Operating Life	PLT	1、試驗(yàn)周期=1000H； 2、溫度=55攝氏度； 3、電流=參照規(guī)格書(shū)最大脈沖電流，脈沖寬度100s，占空比3%；
Dew	DEW	1、試驗(yàn)周期=1008H； 2、溫度循環(huán)條件30-65℃，在65℃停留4-8h,轉(zhuǎn)換時(shí)間在2-4h，RH=90-98%； 3、電流=規(guī)格書(shū)最低電流，If no minimum rated drive current is specified, a drive current shall be chosen not to exceed a rise of 3 K for Tjunction；
Hydrogen Sulphide	H2S	Duration 336 h at 40 °C and 90% RH. H2S concentration: 15 x 10-6 測(cè)試后DPA
Flowing Mixed Gas	FMG	Duration 500 h at 25 °C and 75% RH. H2S concentration: 10 x 10-9 SO2 concentration: 200 x 10-9 NO2 concentration: 200 x 10-9 Cl2 concentration: 10 x 10-9 測(cè)試后DPA
Thermal Resistance	TR	熱阻測(cè)試
Wire Bond Pull	WBP	焊線拉力：Cpk＞1.67
Wire Bond Shear	WBS	焊球推力：Cpk＞1.67
Die Shear	DS	芯片拉力：Cpk＞1.67
Whisker Growth	WG	Only for parts with Sn-based lead finishes. Test to be done on a family basis (plating metallization, lead configuration).

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