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XPS測(cè)試/X射線光電子能譜測(cè)試項(xiàng)目如下：

測(cè)試原理

X射線光電子能譜（XPS），基于光電離作用，當(dāng)一束光子輻射到樣品表面時(shí)，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的動(dòng)能從原子內(nèi)部發(fā)射出來，變成自由的光電子，而原子本身則變成一個(gè)激發(fā)態(tài)的離子。當(dāng)固定激發(fā)源能量時(shí)，其光電子的能量?jī)H與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān)，由此根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。經(jīng)X射線輻照后，從樣品表面射出的光電子的強(qiáng)度與樣品中該原子的濃度呈線性關(guān)系，可以進(jìn)一步進(jìn)行元素的半定量分析。另外，XPS的重要應(yīng)用是對(duì)元素的化學(xué)價(jià)態(tài)進(jìn)行分析。

測(cè)試方法

材料表面不同深度組成元素的定性、半定量及價(jià)態(tài)分析

最小分析深度:表面2nm，檢出限：0.01-1at%

樣品要求

非水份或不含水份及揮發(fā)性物質(zhì)的固體樣品，粉末樣品以工程師確認(rèn)結(jié)果而定。

樣品尺寸：Max. 4*4*4.5cm

應(yīng)用范圍

在化學(xué)、材料科學(xué)及表面科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。

1、 表面元素定性分析

2、 表面元素的半定量分析

3、 表面元素的化學(xué)價(jià)態(tài)分析

4、 元素沿深度方向的分布分析

常見適用標(biāo)準(zhǔn)

ISO 16531-2013 表面化學(xué)分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關(guān)測(cè)量方法

STT檢測(cè)嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。

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