| XRD測試X射線衍射儀?檢測XRD檢測XRD檢測報告XRD測試方法 |
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深圳市賽特檢測有限公司
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XRD測試/X射線衍射儀 測試原理 X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。 測試方法 表征材料的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應力，進行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標準卡，無對應的測試標準。檢出限：1at% 粉末樣品---在硅片試樣臺上制樣，放入儀器中，設定測試參數(shù)，開始測試。 塊狀樣品---切割成樣品臺大小，不超過2.5*2.5cm, 放入儀器中，設定測試參數(shù)，開始測試。 樣品要求 塊狀或粉末樣品10g以上 塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm
應用領域 物相分析，可以對物質(zhì)的組成及物相進行表征分析； 定性、定量分析，通過精修可對物質(zhì)的各組分進行精確的定量分析； 高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。 適用標準 通用標準和非通用標準都適用。 STT檢測嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內(nèi)標準，為企業(yè)提供專業(yè)檢測技術(shù)服務。 深圳市賽特檢測有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業(yè)務！
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