| 低溫存儲壽命試驗高低溫試驗低溫存放試驗低溫檢測報告 |
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深圳市賽特檢測有限公司
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低溫存儲壽命試驗
實驗?zāi)康?/span> 為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應(yīng)性。
實驗設(shè)備 該實驗一般用到高低溫試驗箱。 實驗原理 低溫條件下電子元器件的電參數(shù)會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產(chǎn)生應(yīng)力等。使電子元器件 處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產(chǎn)生應(yīng)力有多大等，從而確定電子元器件抗低溫的能力。 實驗參考標準 JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
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