公司名稱(chēng)：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）
聯(lián)系人：小吳
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公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號(hào)
連接器失效分析
適用產(chǎn)品：
1．電子元器件包括元件(電阻、電容、繼電器、開(kāi)關(guān)、連接器等)、分立器件(二極管、三極管、MOSFET等)、集成電路(小、中、大、超大規(guī)模集成電路等)、微波器件、模塊(電源模塊、功率模塊、頻率模塊等)、電路板及其組件。
2．PCB板：金屬基板、柔性電路板、無(wú)鹵素基板
3．PCBA：通孔焊接、SMT組裝、BGA組裝、MEMS
檢測(cè)項(xiàng)目：
1．電子電路產(chǎn)品的機(jī)械性能、熱學(xué)性能、電學(xué)性能、化學(xué)性能及可靠性分析
2．電子電路產(chǎn)品長(zhǎng)期使用可靠性產(chǎn)品評(píng)測(cè)
3．電子電路產(chǎn)品使用過(guò)程失效后從物理及化學(xué)角度進(jìn)行分析
基本程序：
1． 信息收集(失效前后的背景資料)
2． 外觀(guān)檢查失效前后產(chǎn)品的差異(金相和體式顯微鏡)
3． 電性能測(cè)試(參數(shù)測(cè)試、功能測(cè)試等)
4． 非破壞性物理分析(X-Ray、X-SAM等)
5． 開(kāi)封及去層(機(jī)械開(kāi)封、化學(xué)開(kāi)封與離子蝕刻)
6． 內(nèi)部形貌觀(guān)察(立體顯微鏡、金相顯微鏡、SEM、切片)
7． 內(nèi)部電路分析(探針、FIB、電參數(shù)測(cè)試)
8． 其他分析與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證(SEM-EDS、TTIR、XPS等)
9． 綜合分析與結(jié)論
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