| 產(chǎn)品表面分析 表面異物分析-找賽特檢測(cè) 權(quán)威檢測(cè)中心 |
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深圳市賽特檢測(cè)有限公司
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公司名稱：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT） 聯(lián)系人：小吳 聯(lián)系電話：18925271837（微信同號(hào)） 扣扣號(hào)：3492539620 扣扣郵箱：3492539620@qq.com 公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號(hào) 表面異物分析
在生產(chǎn)使用過程中，產(chǎn)品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無法了解其成分與來源，必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬倍的掃描電子顯微鏡和對(duì)固體樣品元素價(jià)態(tài)分析的X射線光電子能譜，可以分別對(duì)不同現(xiàn)象和類別的異物進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對(duì)材料微觀形貌進(jìn)行直接觀測(cè)，同時(shí)對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行X射線能譜測(cè)試，分析其成分組成，X射線光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定等。
主要分析儀器：
顯微/傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)、X射線光電子能譜儀(XPS)、二次離子質(zhì)譜(SIMS)、X射線衍射儀(XRD)等。
主要測(cè)試項(xiàng)目：
無機(jī)異物分析
有機(jī)異物分析
異物源頭判定 深圳市賽特檢測(cè)有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業(yè)務(wù)！ |
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