| 歐波同SEM-EBSD測試第三方檢測掃描電鏡FIBTEM分析 |
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價格：11.00 元(人民幣) | 產(chǎn)地：北京北京 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：北京北京 | |
| 上架時間：2025-10-14 14:05:10 | 瀏覽量：5 | |
北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司
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EBSD，全稱電子背散射衍射，主要特點是在保留掃描電子顯微鏡的常規(guī)特點的同時進行空間分辨率亞微米級的衍射，給出結(jié)晶學(xué)的數(shù)據(jù)。 例1 20kV條件下得到的碳化鎢/鈷樣品的EBSD結(jié)果
PCB板上的焊球SEM-EBSD測試
原位觀察低碳鋼中γ→α的相變 Al合金原位EBSD的應(yīng)力應(yīng)變數(shù)據(jù)
例2 采用共軸TKD技術(shù)測試了納米孿晶銅的納米片層結(jié)構(gòu)，并且分辨出了2nm尺度的孿晶片層結(jié)構(gòu) 納米孿晶銅的孿晶結(jié)構(gòu)PQ圖與IPFX疊加顯示以及圖中線段處角度分布圖
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