| TO263-5L翻蓋測試座功率器件芯片老化測試失效性分析批量極限驗證 |
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價格：68.00 元(人民幣) | 產地：廣東深圳 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：廣東深圳 | |
| 上架時間：2025-05-07 01:04:41 | 瀏覽量：25 | |
深圳市鴻怡電子有限公司
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