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　　一、簡述

　　TSK-32-8C應(yīng)變測試儀是針對印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測試應(yīng)用所進(jìn)行設(shè)計的儀器，測試項目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和基板分離等。提供實時數(shù)據(jù)監(jiān)控，避免測試過程中出現(xiàn)故障。

　　二、應(yīng)用

　　TSK-32-8C應(yīng)變測試儀廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測試，通過應(yīng)變、應(yīng)變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、格力、美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。

　　三、特點

　　1.設(shè)備輕巧、便攜

　　2.可直接和應(yīng)變片相連

　　3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入

　　4.每通道采樣速率z高可達(dá)10kHz

　　5.每通道同時使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進(jìn)行采樣

　　6.提供高速型USB接口

　　7.主機(jī)支持多款模塊

　　8.符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)的要求

　　四、參數(shù)

　　1.測量類別：應(yīng)變

　　2.測量對象：120Ω應(yīng)變片

　　3.測量范圍：±55000με

　　4.通道數(shù)：8通道、16通、24通道、32通道、40通道、48通道、64通道

　　5.每通道Z高采樣率：10kHz

　　6.AD分辨率：24bit

　　7.精度：±0.3

　　8．重量：0.8-3.5kg

　　9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃

　　10.環(huán)境濕度：10-90

　　11.接口：USB2.0

　　12.輸入電壓：100VAV-240VAC

　　五、軟件介紹

　　1.具備一鍵輸出報告功能，報告符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)

　　2.支持多種語言，如英文、中文

　　3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數(shù)據(jù)分析