| 產(chǎn)品參數(shù) |
| 品牌 | TranSpec Lite |
| 是否支持加工定制 | 否 |
| 是否進(jìn)口 | 是 |
| 測(cè)定對(duì)象 | 車(chē)燈UV漆膜 |
| 測(cè)量范圍 | 0.8-120umN |
| 分辨率 | 0.01mm |
| 精度 | 0.1um |
| 重量 | 10kg |
| 加工定制 | 否 |
| 產(chǎn)地 | 德國(guó) |
| 可售賣(mài)地 | 北京;天津;河北;山西;內(nèi)蒙古;遼寧;吉林;黑龍江;上海;江蘇;浙江;安徽;福建;江西;山東;河南;湖北;湖南;廣東;廣西;海南;重慶;四川;貴州;云南;陜西;甘肅;青海;寧夏 | |
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TranSpec Lite 系列白光干涉光譜儀,用于有機(jī)膜厚測(cè)量,在車(chē)燈(硬化層,滲透層、防霧層厚度),薄膜,半導(dǎo)體等行業(yè)有眾多的應(yīng)用實(shí)例。
在車(chē)燈加工行業(yè),車(chē)燈在成型后,如不做處理,直接裝置與汽車(chē)上,其表面會(huì)較容易出現(xiàn)刮痕損傷,影響汽車(chē)照明性能,為了防止此類(lèi)損傷,現(xiàn)在的車(chē)燈加工廠往往會(huì)在車(chē)燈燈具表面噴涂或浸涂一層硬化層(Hardcoating),以保護(hù)車(chē)燈表面。對(duì)于硬化涂層的厚度需要嚴(yán)格控制,如果硬化涂層太厚,涂層成本會(huì)相對(duì)升高,涂層太薄,防損傷效果又會(huì)減弱。而且在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn),加硬涂層涂在車(chē)燈PC樹(shù)脂基材上,時(shí)間久了,可能會(huì)有脫落現(xiàn)象,所以在涂完加硬層后,會(huì)再新增一道滲透層工藝(油漆在面罩表面通過(guò)加熱后,滲入到基材(面罩)的厚度,這個(gè)厚度是保證漆膜與基材的附著力的。如果偏低,在做百格實(shí)驗(yàn)時(shí),就會(huì)出現(xiàn)脫落的問(wèn)題;如果偏高,就會(huì)影響面罩的透射率,所以我們必須嚴(yán)格按照油漆物性表的要求,調(diào)整合格的滲透層厚度,保證面罩噴涂質(zhì)量)。
在車(chē)燈內(nèi)表面,也需要做防霧處理,會(huì)在內(nèi)表面涂上一層防霧層,這樣會(huì)防止車(chē)燈內(nèi)壁起霧,影響照明效果。
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技術(shù)特點(diǎn)
光學(xué)方法,非接觸、無(wú)損測(cè)量,安全無(wú)輻射。
快速膜厚分析,只需幾毫秒即可獲得測(cè)量結(jié)果
膜厚測(cè)量范圍 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
極高的分析準(zhǔn)確度,在整個(gè)厚度測(cè)量范圍內(nèi)偏差小于0.005微米
可同時(shí)分析計(jì)算兩層膜厚
可同時(shí)支持實(shí)驗(yàn)室離線分析或者在線生產(chǎn)分析
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產(chǎn)品參數(shù):
機(jī)械結(jié)構(gòu)
集成的鹵素光源
TranSpec Lite –分光儀
FTM-ProVis Lite – 膜厚測(cè)量軟件
? 尺寸 (H x W x D): ~ 150 x 195 x 265 mm, 重量: ~4.4 kg
? 自動(dòng)轉(zhuǎn)換100/240V外部電源
? FSMA 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)分叉光光纖連接器
? 德國(guó)Carl Zeis的分光儀模塊,使用全息凹面衍射光柵
? 256,512,1024像素光電二極管可選,無(wú)冷卻要求
? 工廠預(yù)置模塊,無(wú)移動(dòng)部件
? 波長(zhǎng)范圍: 190-1020 nm (MC-UVNIR) , 600-1020 nm (MC-NIR) ,300-1100 nm (MS-VIS)
? 光譜分辨:2.4 nm (MC-UVNIR 和MC-NIR) 或10 nm (MS-VIS)
? 光譜像素分辨: 0.8 nm (MC-UVNIR 和MC-NIR) 或 3.2 nm (MS-VIS)
? 絕對(duì)波長(zhǎng)精度: 小于 0.3 nm
? 溫度漂移: 小于0.005 nm / Kelvin
? FSMA 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)分叉光光纖連接器
? 集成機(jī)械光閘,手動(dòng)或自動(dòng)切換
? 美國(guó)Welch Allyn 7W微型鹵素?zé)?br/>? 多線程 MDI-應(yīng)用, 詳細(xì)的幫助菜單,彩色打印的用戶手冊(cè)
? 通過(guò)特定的傅里葉快速轉(zhuǎn)換進(jìn)行干涉波譜計(jì)算
? 用于計(jì)算FFT峰位(膜厚結(jié)果)的高精度算法
? 準(zhǔn)確性 /- 0.005 um, 重復(fù)性 /- 0.002 um( 標(biāo)準(zhǔn)WEG 測(cè)試)
? 測(cè)量期間能實(shí)時(shí)顯示干涉,FFT波譜和膜厚的趨勢(shì)
? 考慮折射率和色散 (柯西色散定理)
? 可同時(shí)測(cè)量雙層膜厚
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