| 賽默飛（原FEI）TEM透射掃描電鏡微觀三維成像元素分析 |
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價格：1500.00 元(人民幣) | 產地：北京北京 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：北京北京 | |
| 上架時間：2023-12-08 13:15:36 | 瀏覽量：7 | |
北京歐波同光學技術有限公司
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? ??Thermo ScientificTalos F200i S/TEM是賽默飛的用于高分辨率成像和分析應用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20到200 kV，是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的，F可提供對稱布置的雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)，以限度提高分析通量。? Talos F200i標準的 X-TWIN 物鏡極靴間距在應用中具有靈活性，結合高再現性能的鏡筒設計，可支持高分辨率二維和三維表征分析、原位動態(tài)觀測及電子衍射應用。Talos F200i 還配備了 4k × 4k Ceta 16M 相機，可在 64 位平臺上提供大 視場、高靈敏度快速成像。 ? ?Talos F200i S/TEM專為多用戶和多學科環(huán)境設計，并配備了可在所有賽默飛 TEM 平臺使用的Thermo Scientific? Velox? 用戶界面，對于新用戶來說也非常友好。此外，所有 TEM 日常調整都已經自動化，以提供并可重復的日常設置。自動調節(jié)功能簡化了初學者的學習過程，減少了多用戶環(huán)境中的緊張關系，并使有經驗的操作員可以在較短時間內獲取數據信息。? ? ? ?
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