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　　靜電放電測試（ESD試驗）到底有多重要？

　　ESD 是一種常見的近場危害源，可形成高電壓，強電場，瞬時大電流，并伴有強電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。

　　試驗的目的主要是模擬交換機在實際使用過程中，遭遇 ESD靜電放電時，功能和性能的真實情況。對于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測試是方式，但在實際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見，因此一般的試驗，兩種測試方式都會同時做。

　　EMI測試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測試

　　Harmonic-諧波電流擾測試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測試

　　為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對于處在雷電頻繁地區(qū)的項目，雷雨天氣是難熬的時候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗的目的便是測試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時的性能狀況，不同的設(shè)備和測試部位，測試方式與角度不盡相同，

　　EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項重要指標(biāo)要求�；趯涣鞣�(wěn)壓電源使用價值的要求，其 EMC 性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達到較高嚴酷度等級的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負載（對 EMI 敏感的電子設(shè)備）提供充足的 EMC 安全裕度。