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    Micromeritics? TRISTAR II3020 比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀
    發(fā)布者:倍加孚(廈門(mén))科技有限公司  發(fā)布時(shí)間:2023-02-23 18:26:27

      

    Micromeritics® TRISTAR II3020 比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀

     


      稱(chēng):比表面積和孔結(jié)構(gòu)分析儀 (Specific surface area and pore structure analyzer)

      號(hào):TRISTAR II 3020

     

    儀器簡(jiǎn)介

    配備常壓氮?dú)鈿夥栈罨b置,全自動(dòng)三站式比表面積和孔隙度分析儀,可同時(shí)和獨(dú)立分析三個(gè)樣品,配備了液氮等溫夾,保證等溫夾套以下的溫度恒定。

    可應(yīng)用在藥品、陶瓷、活性炭、碳黑、油漆和涂料、催化劑、推進(jìn)燃料、醫(yī)用植入體、化妝品、電子產(chǎn)品、碳納米管、燃料電池、航空領(lǐng)域隔熱層以及絕熱材料的比表面以及孔隙度的測(cè)定。

    主要技術(shù)指標(biāo)

    比表面測(cè)量范圍:氮?dú)馕?/span>0.01m2/g至無(wú)上限;

    孔徑分析范圍:3.5-5000埃;

    測(cè)量5點(diǎn)BET比表面儀僅需20分鐘;

    重復(fù)性?xún)?yōu)于1%

    真正的三站同事測(cè)量,每個(gè)分析站均有獨(dú)立的高精度壓力傳感器。

    樣品要求

    保證提供的樣品質(zhì)量滿(mǎn)足測(cè)試要求(比表面積×樣品質(zhì)量>10m2);

    提供樣品脫氣溫度和脫氣時(shí)間;

    樣品無(wú)毒無(wú)害;

    送樣測(cè)試樣品請(qǐng)預(yù)先在至少110℃下烘干2h,冷卻后密封或在干燥器中存放。

    版權(quán)聲明PLC信息網(wǎng)轉(zhuǎn)載作品均注明出處,本網(wǎng)未注明出處和轉(zhuǎn)載的,是出于傳遞更多信息之目的,并不意味 著贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性。如轉(zhuǎn)載作品侵犯作者署名權(quán),或有其他諸如版權(quán)、肖像權(quán)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)等方面的傷害,并非本網(wǎng)故意為之,在接到相關(guān)權(quán)利人通知后將立即加以更正。聯(lián)系電話(huà):0571-87774297。
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