Physik Instrumente (PI) 納米定位器 P-616.3C用于壓電系統(tǒng)
PI 的多軸壓電撓性平臺(tái)允許在多達(dá) 6 個(gè)軸上以亞納米精度進(jìn)行定位和掃描，包括傾斜、傾斜和偏航運(yùn)動(dòng)。版本范圍從緊湊的立方體設(shè)計(jì)到大孔徑和低剖面。
Physik Instrumente (PI)XYZ 掃描儀是定位技術(shù)的多面手。應(yīng)用包括樣品調(diào)整、技術(shù)、光學(xué)計(jì)量、光纖定位和光子學(xué)，以及原子力顯微鏡。
Physik Instrumente (PI)P-616 NanoCube ®納米定位器
忒點(diǎn)：
用于納米定位和光纖對(duì)準(zhǔn)的緊湊型平行運(yùn)動(dòng)壓電系統(tǒng)
平行運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì)，可在所有空間方向上實(shí)現(xiàn)剛度
即使負(fù)載高達(dá) 100 g，也會(huì)因高共振頻率而實(shí)現(xiàn)高動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng)
由于單一安裝平臺(tái)，創(chuàng)新的產(chǎn)品設(shè)計(jì)可靈活使用。
市場(chǎng)上具有 ID 芯片功能的納米定位器
市場(chǎng)上小、輕的 NanoCube®，行程為 100 μm
Physik Instrumente (PI) P-616.3C應(yīng)用領(lǐng)域：
光纖定位和對(duì)準(zhǔn)
掃描顯微鏡
2-光子聚合
納米技術(shù)和納米制造
光子學(xué)/集成光學(xué)
顯微操作
樣品定位
PICMA® 壓電執(zhí)行器具有出色的使用壽命
Physik Instrumente (PI) P-616.3C技術(shù)數(shù)據(jù)：
運(yùn)動(dòng) P-616.3C 寬容
活動(dòng)軸 XYZ
X行程范圍 100微米
Y行程范圍 100微米
Z行程范圍 100微米
X 方向的行程范圍，開(kāi)環(huán) 110微米 ±20%
Y行程范圍，開(kāi)環(huán) 110微米 ±20%
Z行程范圍，開(kāi)環(huán) 110微米 ±20%
X 中的線性誤差 0.03% 類(lèi)型。
Y 中的線性誤差 0.03% 類(lèi)型。
Z 中的線性誤差 0.03% 類(lèi)型。
Physik Instrumente (PI) P-616.3C獲得專(zhuān)利的 PICMA® 壓電執(zhí)行器是全陶瓷絕緣的。這可以保護(hù)它們免受因漏電流增加而導(dǎo)致的潮濕和故障。Physik Instrumente (PI) P-616.3CPICMA® 執(zhí)行器的使用壽命是傳統(tǒng)聚合物絕緣執(zhí)行器的十倍。Physik Instrumente (PI) P-616.3C證明了 1000 億次循環(huán)而沒(méi)有一次故障。
Physik Instrumente (PI) 納米定位器 P-616.3C用于壓電系統(tǒng)
